회사소개

GLOBAL BEST SPIRIT "DEPLUS"

인증서&특허

  • ISO 9001:2008
    • · 발주처 ICR인증원
    • · 발행일 2012-12-04
  • ISO 14001:2004
    • · 발주처 ICR인증원
    • · 발행일 2012-12-04
  • 특허 제 10-0707878 수직형프로브카드
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2007-04-09
  • 특허 제 10-1212945 수직형프로브를 갖는 검사용 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2012-12-11
  • 특허 제 10-1299715 양방향 좌굴핀을 이용한 검사용 소켓-1
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2013-08-19
  • 특허 제 10-1299725 좌굴 프로브 핀
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2013-08-19
  • 특허 제 10-1442035 카메라모듈테스트장치
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2014-09-12
  • 특허 제 10-1574486 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2015-09-14
  • 특허 제 10-1611525 제품 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2015-01-05
  • 특허 제10-1212946 이미지센서 테스트장치
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2012-12-11
  • 특허 제10-1281693 엘이디 바 검사 장치
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2013-06-27
  • 특허 제10-1299722 좌굴핀을 이용한 검사용 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2013-08-19
  • 특허 제10-1576441 제품테스트장치
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2015-12-04
  • 특허 제10-1619801 반도체 제품 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2016-05-03
  • 특허 제10-1652303 제품 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2016-08-24
  • 특허 제10-1673375 모듈테스트소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2016-11-01
  • 특허 제10-1689521 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2016-12-20
  • 특허 제10-1772003 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2017-08-22
  • 특허 제10-1794601 테스트 소켓
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2017-11-01
  • 특허 제10-1878394 제품 테스트 장치
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2018-07-09
  • 등록 제30-0477609 디자인의 대상이 되는 물품 평면표시패널 검사용프로브
    • · 발주처 특허청
    • · 발행일 2008-01-21